Profilomètre de surface
A surface profilometer is a precision measurement instrument designed to evaluate surface roughness, Texture, and micro-profile characteristics with high accuracy. The surface profilometer uses advanced contact or optical sensing technology to capture detailed surface height variations, enabling reliable analysis of fine surface features. The surface profilometer is widely used in quality inspection processes where precise surface characterization is essential for manufacturing control and product consistency.
- Linéarité: ±(0.7+|0.12H|)μm
- Circularité: ±(1,2 R/12)μm
- Angle: ±1′
- Droiture: 00,5μm/100mm
Description du produit
Introduction
The surface profilometer plays a critical role in modern industrial quality assurance by delivering fast, répétable, and highly accurate surface measurements. Compared with traditional manual inspection methods, it significantly improves measurement efficiency, reduces operator error, and ensures consistent data output for production evaluation. This system is commonly applied in semiconductor manufacturing, automotive engineering, Composants aérospatiaux, and precision machining industries where strict surface quality standards are required.
Caractéristiques clés
- Stable Performance: Consistent and reliable operation.
- Fast Transmission: Quick data transmission for efficiency.
- Automatic Calibration: Ensures precise measurements with minimal effort.
- Accurate Measurement: Provides high-accuracy results for critical measurements.
- Rapid Response: Fast response time for efficient analysis.
- Real-Time Monitoring: Monitors measurements and displays results in real time.
Roughness Profilometer - Spécifications techniques
Contour Measurement Functions:
- Dimensions: Horizontal distance, vertical distance, linear distance, Rayon, and diameter.
- Angles: Horizontal angle, vertical angle, and included angle.
- Positional Tolerances: Parallelism and perpendicularity.
- Form Tolerances: Droiture, convexity, and arc profile tolerances.
- Auxiliary Generation: Auxiliary points, auxiliary lines, and auxiliary circles.
Cryptogram Analysis:
- Ra, Rammax, Ramin, Rasd, Rp, Rpmax, Rpmin, Rpsd, Rv, Rvmax, Rvmin, Rvsd, Rz, Rzmax, Rzmin, Rzsd, R3z, Rc, Rcmax, Rcmin, Rcsd, Rt, Rq, Rqmax, Rqmin, Rdsd, Rsk, Rskmax, Rsmin, Rsksd, Rku, Rkumax, Rkumin, Rkusd, Rsm, Rsmmax, Rsmmin, Rsmsd, Rs, R△a, R△amax, R△amin, R△asd, R△q, R△qmax, R△qmin, R△qsd, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Rλa, Rλamax, Rλamin, Rλasd, Rλq, Rλqmax, Rλqmin, Rλqsd, Rδc, Rpc, Rmr
Waviness Analysis:
- Wa, Wamax, Wamin, Wasd, Wsa, Wca, Wa08, Wc, Wcmax, Wcmin, Wcsd, Wt, Wz, Wzmax, Wzmin, Wzsd, Wp, Wpmax, Wpmin, Wpsd, Wv, Wvmax, Wvmin, Wcsd, Wq, Wqmax, Wqmin, Wqsd, Wsm, Wsmmax, Wsmmin, Wsmsd, Wsk, Wskmax, Wskmin, Wsksd, Wku, Wkumax, Wkumin, Wkusd, W△q, W△qmax, W△qmin, W△qsd, Wδc, Wmr
Original Contour Analysis:
- Pa, Pt, Pp, Pc, Pv, Pz, Pq, Psm, Psk, Pku, RzJ, Rpq, Rvq, Rmq, Pmr, P△q, Avh, Hmax, Hmin, Superficie, Pδc, Tilta
Paramètres d’équipement
| Plage de mesure | Driver à direction X | 130mm | |
| Z1 | Plage de mesure du profil | 40 mm | |
| Z1 | Plage de mesure de rugosité | ±1500μm | |
| Z1 | Resolution 0.02 micrometers | ||
| Z-axis height (column) | 550mm | ||
| Trou intérieur minimum détectable | 10 mm | ||
| Paramètres techniques de contour | Linéarité | ±(0.7+|0.12H|)μm | |
| Circularité | ±(1,2 R/12)μm | ||
| Angle | ±1′ | ||
| Droiture | 00,5μm/100mm | ||
| Paramètres techniques de rugosité | Précision de linéarité | ≤±5 % | |
| Bruit résiduel | ≤0.005μm | ||
| Stabilité de la répétabilité | Valeur de l’essai 3 % | ||
| Longueur d’onde de coupure | 0.025, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8mm | ||
| Longueur d’évaluation | λcX1, 2, 3, 4, 5 | ||
| Capteur | Type | USA | |
| Résolution | 0.02μm | ||
| Origine | USA | ||
| Angle d’ascension | 77 degrees ascent, 88 degrees descent | ||

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